Journal Of Electronic Imaging

SCI SCIE

国际简称：J ELECTRON IMAGING 参考译名：电子影像杂志

主要研究方向：工程技术-成像科学与照相技术非预警期刊审稿周期：约4.0个月

《电子影像杂志》(Journal Of Electronic Imaging)是一本由SPIE出版的以工程技术-成像科学与照相技术为研究特色的国际期刊，发表该领域相关的原创研究文章、评论文章和综述文章，及时报道该领域相关理论、实践和应用学科的最新发现，旨在促进该学科领域科学信息的快速交流。该期刊是一本未开放期刊，近三年没有被列入预警名单。

4区中科院分区
Q4 JCR分区
324 年发文量
1 IF影响因子
未开放 是否OA
60 H-index
1992 创刊年份
Quarterly 出版周期
English 出版语言

The Journal of Electronic Imaging publishes peer-reviewed papers in all technology areas that make up the field of electronic imaging and are normally considered in the design, engineering, and applications of electronic imaging systems.

[ 查看全部 ]

投稿咨询加急咨询

Journal Of Electronic Imaging期刊信息

ISSN：1017-9909
出版语言：English
是否OA：未开放
E-ISSN：1560-229X
出版地区：UNITED STATES
是否预警：否
出版商：SPIE
出版周期：Quarterly
创刊时间：1992
开源占比：0.0325
Gold OA文章占比：3.01%
OA被引用占比：
出版国人文章占比：0
出版撤稿占比：
研究类文章占比：99.69%

Journal Of Electronic Imaging CiteScore评价数据（2026年6月最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指数

2.4

0.249

0.315

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q3	554 / 1030	46%
大类：Engineering 小类：Computer Science Applications	Q3	615 / 1022	39%
大类：Engineering 小类：Atomic and Molecular Physics, and Optics	Q3	156 / 243	36%

名词解释：CiteScore 是衡量期刊所发表文献的平均受引用次数，是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年（含计算年度）的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。例如，2022年的 CiteScore 计算方法为：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的对2019-2022年发表的文件的引用数量÷2019-2022年发布的文献数量注：文献类型包括：文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文。

Journal Of Electronic Imaging中科院评价数据

《新锐期刊分区表》（2026年3月发布）

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	计算机科学	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气 OPTICS 光学 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科学与照相技术	4区 4区 4区

Journal Of Electronic Imaging JCR评价数据

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q4	321 / 369	13.1
学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	SCIE	Q4	35 / 39	11.5
学科：OPTICS	SCIE	Q4	106 / 129	18.2
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q4	308 / 371	17.12
学科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY	SCIE	Q4	34 / 39	14.1
学科：OPTICS	SCIE	Q4	109 / 129	15.89

Journal Of Electronic Imaging历年数据统计

影响因子

中科院分区

Journal Of Electronic Imaging中国学者发文选摘

1、From synthesis to segmentation: unsupervised liver tumor detection through synthetic tumor generatio
Author: Zhu, Yuerong; Yang, Jianwei

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013016
2、PiSOD: a plug-and-play pseudosupervised framework for semantic-structural alignment in salient object detectio
Author: Zhu, Xiaodong; Song, Mengke; Liu, Xinyu; Zhang, Guisheng; Yuan, Qianxi; Zhang, Yu

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013014
3、ATPP-KAN: robust black-box watermarking for Kolmogorov-Arnold Networks via alternating training and parameter perturbatio
Author: Zhao, Yifei; Zhao, Gejian; Wu, Hanzhou

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013004
4、Cross-modal co-attention network for light field salient object detectio
Author: Zhang, Yunzuo; Wang, Shuangshuang; Tu, Zhiwei; Yang, Yuehui

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013020
5、Deepfake detection method guided by dual-entropy uncertainty based on Gabor dual-domain features and channel-spatial correlation attentio
Author: Zhang, Ruixing; Li, Bin; Xu, Degang

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013022
6、Multiperception enhanced network for efficient crowd countin
Author: Zhang, Chen; Cheng, Jing-an; Zhang, Yan; Gao, Mingliang

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013002
7、Detecting object-level scene changes in images with feature alignmen
Author: Xu, Zhi; Zeng, Xiaowei; Ma, Yuchang; Lai, Junjie; Zeng, Zhixin; Jiang, Yong

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013001
8、Efficient information utilization for fine-grained hashin
Author: Wang, Hongsong; Lan, Zongjie; Su, Hai

Journal: JOURNAL OF ELECTRONIC IMAGING. 2026; Vol. 35, Issue 1, pp. -. DOI: 10.1117/1.JEI.35.1.013006