Ieee Circuits And Systems Magazine

SCI SCIE

国际简称：IEEE CIRC SYST MAG 参考译名：IEEE电路与系统杂志

主要研究方向：工程技术-工程：电子与电气非预警期刊审稿周期：>12周，或约稿

《IEEE电路与系统杂志》(Ieee Circuits And Systems Magazine)是一本由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版的以工程技术-工程：电子与电气为研究特色的国际期刊，发表该领域相关的原创研究文章、评论文章和综述文章，及时报道该领域相关理论、实践和应用学科的最新发现，旨在促进该学科领域科学信息的快速交流。该期刊是一本未开放期刊，近三年没有被列入预警名单。该期刊享有很高的科学声誉，影响因子不断增加，发行量也同样高。

2区中科院分区
Q1 JCR分区
23 年发文量
5.6 IF影响因子
未开放 是否OA
45 H-index
2001 创刊年份
Quarterly 出版周期
English 出版语言

The theory, analysis, design (computer aided design), and practical implementation of circuits, and the application of circuit theoretic techniques to systems and to signal processing. The coverage of this field includes the spectrum of activities from, and including, basic scientific theory to industrial applications.

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Ieee Circuits And Systems Magazine期刊信息

ISSN：1531-636X
出版语言：English
是否OA：未开放
E-ISSN：1558-0830
出版地区：UNITED STATES
是否预警：否
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期：Quarterly
创刊时间：2001
开源占比：0.0213
Gold OA文章占比：0.00%
OA被引用占比：
出版国人文章占比：0
出版撤稿占比：
研究类文章占比：100.00%

Ieee Circuits And Systems Magazine CiteScore评价数据（2026年6月最新版）

CiteScore

SJR

SNIP

CiteScore 指数

6.4

0.763

1.802

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q1	241 / 1030	76%
大类：Engineering 小类：Computer Science Applications	Q2	282 / 1022	72%

名词解释：CiteScore 是衡量期刊所发表文献的平均受引用次数，是在 Scopus 中衡量期刊影响力的另一个指标。当年CiteScore 的计算依据是期刊最近4年（含计算年度）的被引次数除以该期刊近四年发表的文献数。例如，2022年的 CiteScore 计算方法为：2022年的 CiteScore =2019-2022年收到的对2019-2022年发表的文件的引用数量÷2019-2022年发布的文献数量注：文献类型包括：文章、评论、会议论文、书籍章节和数据论文。

Ieee Circuits And Systems Magazine中科院评价数据

《新锐期刊分区表》（2026年3月发布）

Top期刊	综述期刊	大类学科		小类学科
否	否	工程技术	2区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	3区

Ieee Circuits And Systems Magazine JCR评价数据

2025-2026年最新版

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q1	72 / 369	80.6
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q2	110 / 371	70.49

Ieee Circuits And Systems Magazine历年数据统计

影响因子

中科院分区

Ieee Circuits And Systems Magazine中国学者发文选摘

1、Toward Unified Standards for Open RTL-to-GDSII Design Flows: Insights From the Open RTL-to-GDSII Flow Standards Workshop (ORFSW 2025
Author: Ahmed, Hossam O.; Madian, Ahmed; Chong Ang, Boon; Li, Yongfu

Journal: IEEE CIRCUITS AND SYSTEMS MAGAZINE. 2026; Vol. 26, Issue 1, pp. 112-117. DOI: 10.1109/MCAS.2025.3641872
2、Empowering Open Innovation Through IEEE CAS Society Conferences Grand Challenges and the Development of Robust IEEE Standards [Open Innovations and Standards
Author: Li, Yongfu; Yong, Yin; Wang, Guoxing; Zhao, Liebin; Lian, Yong

Journal: IEEE CIRCUITS AND SYSTEMS MAGAZINE. 2025; Vol. 25, Issue 1, pp. 99-105. DOI: 10.1109/MCAS.2024.3481391
3、IEEE Standards Workshop on AI for Healthcare [Standards Corner
Author: Li, Yongfu; Yuan, Jiajun; Zhao, Yang; Zhao, Liebin; Lian, Yong

Journal: IEEE CIRCUITS AND SYSTEMS MAGAZINE. 2025; Vol. 25, Issue 1, pp. 93-98. DOI: 10.1109/MCAS.2024.3481372
4、IEEE Young Professionals in Circuits and Systems (YPCAS) Forum 2024 at University of Macau, Macau SAR, Chin
Author: Lam, Chi-Seng

Journal: IEEE CIRCUITS AND SYSTEMS MAGAZINE. 2025; Vol. 25, Issue 1, pp. 88-92. DOI: 10.1109/MCAS.2024.3515892